◆ 采用分光鏡設計,減少光損失,提高成像清晰度,使光線均勻照射物體表面
◆ 同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰 影,從而減少干擾部分。
應用:
◆ 此系列光源最適用于表面反射度極高的物體,如金屬、玻璃、晶體等表面劃傷的檢測;芯片和硅片的破損檢測。
◆ Mark點定位
◆ 包裝條碼識別
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公司基本資料信息
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◆ 采用分光鏡設計,減少光損失,提高成像清晰度,使光線均勻照射物體表面
◆ 同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰 影,從而減少干擾部分。
應用:
◆ 此系列光源最適用于表面反射度極高的物體,如金屬、玻璃、晶體等表面劃傷的檢測;芯片和硅片的破損檢測。
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